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Fundamentos de Metrologia Científica e Industrial

Título: Fundamentos de Metrologia Científica e Industrial

Autor: Armando Albertazzi G. Jr.

Sinopse: Este livro foi inicialmente concebido como material de apoio para o aprendizado da metrologia nos cursos de graduação e pós-graduação nas áreas das engenharias, ciências exatas e afins. A abordagem intuitiva e o sequenciamento progressivo adotado tornam o livro adequado para pessoas autodidatas, bem como acessível para cursos técnicos e de educação continuada. Esta nova edição acrescenta um capítulo sobre o uso de simulações numéricas para estimar incertezas de medição e um novo anexo com conceitos de estatística apresentados de forma intuitiva. O objetivo é que esta obra possa conduzir o leitor à compreensão e aplicação consciente da metrologia em favor do aumento da confiabilidade do trabalho experimental.

Editora: Manole

Páginas:

Ano: 2000

Edição:

Linguagem: pt-br

ISBN: 8520433758

ISBN13: 9788520433751

Informações do autor não encontradas.



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