Título: Fundamentos de Metrologia Científica e Industrial
Autor: Armando Albertazzi G. Jr.
Sinopse: Este livro foi inicialmente concebido como material de apoio para o aprendizado da metrologia nos cursos de graduação e pós-graduação nas áreas das engenharias, ciências exatas e afins. A abordagem intuitiva e o sequenciamento progressivo adotado tornam o livro adequado para pessoas autodidatas, bem como acessível para cursos técnicos e de educação continuada. Esta nova edição acrescenta um capítulo sobre o uso de simulações numéricas para estimar incertezas de medição e um novo anexo com conceitos de estatística apresentados de forma intuitiva. O objetivo é que esta obra possa conduzir o leitor à compreensão e aplicação consciente da metrologia em favor do aumento da confiabilidade do trabalho experimental.
Editora: Manole
Páginas:
Ano: 2000
Edição:
Linguagem: pt-br
ISBN: 8520433758
ISBN13: 9788520433751
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